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Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀

簡(jiǎn)要描述:Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái),采用雪崩二極管(APD)檢測(cè)器和大功率激光器,大功率激光器可以增加光強(qiáng)度,APD檢測(cè)器更是增加了對(duì)微小粒子所發(fā)出信號(hào)的探測(cè)能力。利用動(dòng)態(tài)光散射理論,粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。

  • 更新時(shí)間:2024-10-31
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品型號(hào):Nicomp 380 Z3000
  • 訪  問(wèn)  量:13321
詳情介紹

Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息

圖片1.png

儀器型號(hào):Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀

工作原理:

粒度分布:動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

檢測(cè)范圍:

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV


Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái),采用動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和 Nicomp 多峰算法,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優(yōu)勢(shì)。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬(wàn)次。另外,采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既檢測(cè)精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。



技術(shù)優(yōu)勢(shì)


1、APD-LDC&PMT雙檢測(cè)器;

2、可搭配不同功率光源;

3、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬(wàn)次;

4、鈀電極;

5、精度高,接近樣品真實(shí)值;

6、復(fù)合型算法:


相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

7、快速檢測(cè),可以追溯歷史數(shù)據(jù);

8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

10、無(wú)需校準(zhǔn);

11、復(fù)合型算法:

(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

12、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí);

(1)可自動(dòng)稀釋模塊;

(2)搭配多角度檢測(cè)器;

(3)自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布概念


基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個(gè)主要特點(diǎn),Nicomp人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng)性的開(kāi)創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。


圖一:Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)


如圖一:此數(shù)據(jù)為Nicomp人Dave Nicole親測(cè)其血液所得的真實(shí)案例。其檢測(cè)項(xiàng)目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由圖中可以看出,其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可見(jiàn),Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.pngNicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)

Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)狀況。依托于Nicomp系列儀器一系列的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

圖片3.png圖片4.png


圖二:高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖

如圖二:此數(shù)據(jù)為檢測(cè)93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測(cè)得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布(Gaussian)結(jié)果,右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果,兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間,卻無(wú)法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰,即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn),體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,這和實(shí)際情況相符。


為滿足不同客戶的實(shí)際檢測(cè)需求,我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置,旨在為客戶們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上,得到需求的解決方案,取得收益。


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)



Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png模塊化設(shè)計(jì)

Nicomp 380納米激光粒度儀是在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加,Nicomp 380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png自動(dòng)稀釋模塊

自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差,且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度,這大大縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間,且無(wú)需培訓(xùn),測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/HPLD大功率激光器

美國(guó)PSS粒度儀公司在開(kāi)發(fā)儀器的過(guò)程中,考慮到在各種實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求,對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)小粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào),使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。

因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?,?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,測(cè)試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測(cè)器

Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測(cè)器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。

APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來(lái)增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團(tuán),他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。


Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png380/MA多角度檢測(cè)器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器,從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品,通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè),改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精度。




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